PROUCTS LIST
NEWS
LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組 信號分析儀的詳細資料:
LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組包含4個無源磁場探頭和1無源電場探頭,所有探頭的頻率范圍為30MHz到6GHz,用于在研發(fā)階段測量磁場和電場。由于在探頭內部配置了阻抗匹配器,該探頭組與其他探頭(如RF型探頭)相比,在低頻區(qū)較不敏感。 使用XF 1系列的探頭,可以逐步辨識電子模塊中的干擾磁場源。例如,首先用XF-R 400-1型探頭檢測電子模塊總體發(fā)射出的干擾場,然后再用高分辨率探頭更準確地識別干擾源。電場探頭用于檢測電子模塊表面的干擾電場。 通過相應地操作近場探頭,能夠測量出電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便,并采用外皮電流衰減。磁場探頭采用電屏蔽設計。這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場探頭的內部安裝有終端電阻
LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組產品內容:
1xXF-B 3-1, 磁場探頭(30MHz-6Hz)
1xXF-E 10, 電場探頭(30MHz-6GHz)
1xXF-R 3-1, 磁場探頭(30MHz-6GHz)
1xXF-R 400-1, 磁場探頭(30MHz-6Hz)
1xXF-U 2.5-1, 磁場探頭(30MHz-6GHz)
1xSMA-SMA 1 m, SMA-SMA 測量電纜
1xCase 5
LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組產品簡介
XF-B 3-1磁場探頭(30MHz-6Hz)
XF-B 3-1型磁場探頭的測量線圈相對垂直于探頭柄。當探頭豎直放置到電路板上時,其測量線圈直接平放在電路板的表面上。由此就能夠測量到印刷電路板表面上很難達到的一些位置,如開關調節(jié)器的大元件之間的位置。
XF-E 10電場探頭(30MHz-6GHz)
XF-E 10型電場探頭底面的電極僅有約0.2mm寬,用于定位小的電場,例如0.1mm寬的導線、高針數(shù)集成電路的單個引腳等發(fā)射的電場。測試時將該電場探頭放置在受測物體上。
XF-R 3-1磁場探頭(30MHz-6GHz)
XF-R 3-1型近場探頭: 用于高分辨率直接檢測組件上,譬如IC的引腳或外殼、布線、旁路電容器和電磁兼容性(EMC)元件等區(qū)域的射頻磁場。
XF-R 400-1磁場探頭(30MHz-6Hz)
XF-R 400-1磁場探頭 因較大的直徑(25mm)而擁有很高的靈敏度,允許在10cm以內的距離測量模塊和設備。
XF-U 2.5-1磁場探頭(30MHz-6GHz)
XF-U 2.5-1型磁場探頭是一個近場探頭,用于選擇性測量導線、SMD組件和IC引腳中的高頻電流。這個探頭有一個大約0.5mm寬的磁場敏感缺口,測量時將這個缺口放在布線、IC或者電容器的連接點上。
如果你對LANGER EMV-Technik XF1近場探頭組 信號分析儀感興趣,想了解更詳細的產品信息,填寫下表直接與廠家聯(lián)系: |