LANGER EMV-Technik    LF近場探頭組包含4個(gè)屏蔽無源近場探頭，用于在研發(fā)階段測量電子模塊上長波.中波和短波區(qū)的射頻磁場。使用LF1探頭組的探頭，可以逐步定位集成電路上的干擾放射源。首先使用探頭LF-R 400從遠(yuǎn)距離探測模塊的干擾發(fā)射情況，接下來再用更高分辨率的探頭LF-B3.LF-U5和LF-U2.5對干擾源進(jìn)行更精確的定位。采用這些探頭可測量單個(gè)引腳.較大元件和結(jié)構(gòu)件。這些近場探頭小巧輕捷，并采用外皮電流衰減和電屏蔽設(shè)計(jì)。這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50歐姆輸入端。這些近場探頭的內(nèi)部沒有50歐姆的終端阻抗。

LANGER EMV-Technik    LF近場探頭組產(chǎn)品內(nèi)容：

1*LF-B3 磁場探頭 （100KHz-50MHz）

1*LF-R400磁場探頭（100KHz-50MHz）

1*LF-U2.5磁場探頭（100KHz-50MHz）                                                                                    

1*LF-U5磁場探頭  （100KHz-50MHz）                                                                                          

1*SMB-BNC 1m  SMB-BNC測量電纜     

1*case 4+