產(chǎn)品列表
PROUCTS LIST
近場(chǎng)探頭上限頻率決定因素
點(diǎn)擊次數(shù):2113 更新時(shí)間:2018-08-28
近場(chǎng)探頭上限頻率決定因素
近場(chǎng)探頭的上限頻率是由探頭端的尺寸和設(shè)計(jì)決定的。所有探頭均無(wú)源,并且可以連接到測(cè)試接收機(jī)或頻譜分析儀的50W輸入端。近場(chǎng)探頭前置放大器可以增加靈敏度。
電路設(shè)計(jì)人員通常對(duì)模塊進(jìn)行近場(chǎng)測(cè)量,以確定電磁干擾是否超過(guò)EMC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的閾值。基于場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量,設(shè)計(jì)人員已經(jīng)知道被測(cè)電路板或模塊的幾個(gè)臨界頻率。降低EMI的一個(gè)實(shí)用方法是分析近場(chǎng)、確定干擾源位置并提出有針對(duì)性的應(yīng)對(duì)措施。
近場(chǎng)探頭用途:
1.主要應(yīng)用于查找干擾源,判定干擾產(chǎn)生的原因;
2.可以檢測(cè)器件或者是表面的磁場(chǎng)方向及強(qiáng)度;
3.可以檢測(cè)磁場(chǎng)耦合的通道,從而調(diào)整連接器或者是顯示器的位置;
4.可以檢測(cè)PCB附近的磁場(chǎng)環(huán)境情況;
5.可用于電子產(chǎn)品漏信(信號(hào)泄漏)檢測(cè)分析。
產(chǎn)品重量:0KG
產(chǎn)品尺寸:φ45×40mm
近場(chǎng)探頭的上限頻率是由探頭端的尺寸和設(shè)計(jì)決定的。所有探頭均無(wú)源,并且可以連接到測(cè)試接收機(jī)或頻譜分析儀的50W輸入端。近場(chǎng)探頭前置放大器可以增加靈敏度。
電路設(shè)計(jì)人員通常對(duì)模塊進(jìn)行近場(chǎng)測(cè)量,以確定電磁干擾是否超過(guò)EMC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的閾值。基于場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量,設(shè)計(jì)人員已經(jīng)知道被測(cè)電路板或模塊的幾個(gè)臨界頻率。降低EMI的一個(gè)實(shí)用方法是分析近場(chǎng)、確定干擾源位置并提出有針對(duì)性的應(yīng)對(duì)措施。
近場(chǎng)探頭用途:
1.主要應(yīng)用于查找干擾源,判定干擾產(chǎn)生的原因;
2.可以檢測(cè)器件或者是表面的磁場(chǎng)方向及強(qiáng)度;
3.可以檢測(cè)磁場(chǎng)耦合的通道,從而調(diào)整連接器或者是顯示器的位置;
4.可以檢測(cè)PCB附近的磁場(chǎng)環(huán)境情況;
5.可用于電子產(chǎn)品漏信(信號(hào)泄漏)檢測(cè)分析。
產(chǎn)品重量:0KG
產(chǎn)品尺寸:φ45×40mm